最終更新日:
2024-07-16 09:17:28.0
集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と
部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された
集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。
革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな
測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。
また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の
分析ができます。
【特長】
■大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析・膜厚測定
■ポリキャピラリ―レンズの採用
■非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能
■校正なしで単体サンプルや多層膜の分析ができる
■ユーザフレンドリーな卓上型
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】
■X線検出器：シリコンドリフト検出器(SDD)
■X線管球：マイクロフォーカスチューブ
■プライマリフィルター：4種類
■本体寸法：670×885×660mm(幅×奥行×高さ)
■有効サンプル配置エリア：600×600mm(幅×奥行)
■消費電力：最大120W
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途例】 ■大型プリント回路基板の測定 ■薄膜の厚さ測定 ■品質管理等における自動測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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