最終更新日:
2024-07-16 09:18:04.0
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された
モデルです。
さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で
切り替え可能な一次フィルターを採用しています。
【特長】
■ユーザーフレンドリーな構造
■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載
■高精度で高分解能な検出感度を実現
■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能
■簡単に膜厚測定と素材分析ができる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】
■電源:AC115VまたはMAC230V 50/60Hz
■消費電力:最大120W
■保護クラス:IP40
■外寸:幅680x900x高690mm
■重量:約130kg
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【応用例】 ■エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハーの測定 ■薄膜コーティングの分析 (例)<0.1pmのAuやPd ■品質管理などにおける自動測定 ■多層膜コーティングの測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社フィッシャー・インストルメンツ