『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の
薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。
再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、
デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。
測定ヘッドはコンパクト設計になっており、製造ラインに直接組み込むことができます。
【特長】
■大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を非破壊で連続測定
■表面温度が非常に高温な物まで(最大500℃まで)測定可能
■大気中と真空中の両方の雰囲気中で測定可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【性能】
■X線源:標準タイプ、Wターゲット、ガラス窓あるいはマイクロフォーカスチューブでWターゲットとBe窓を選択(Rh, Moターゲットはオプション)
■最大定格:50KV、50W
■X線検出器:PINかSDD(ペルチア冷却式)
■測定距離:60~100mmか100~150mm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■ガラスや金属もしくはプラスチックの基材の上に塗布されたCIGS、CIS、CdTeなどの厚みと組成を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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