最終更新日:
2024-07-16 09:16:37.0
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適！
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や
微量分析ができる蛍光X線式測定器です。
大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。
大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が
得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。
★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載
従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。
【特長】
■電動ステージ付き
■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる
■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用
■高い凡用性
■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】
■測定元素範囲：Al(13)～U(92)
■X線検出器：シリコンドリフト検出器(SDD)
■X線管球：マイクロフォーカスチューブ
■プライマリフィルター：6種類
■本体寸法：660×835×720mm(幅×奥行×高さ)
■測定チャンバー内寸：580×560×145mm(幅×奥行×高さ)
■重量：約140kg
■消費電力：最大120W
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途例】 ■極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ■トレース分析（RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など） ■NiPの組成分析、厚さ測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
