最終更新日:
2024-07-16 09:16:37.0
非破壊で膜厚測定と素材分析ができる！品質管理や生産管理における測定にも好適！
『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と
素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です！
また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で
品質管理や生産管理における測定にも適しています。
さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である
高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。
【特長】
■微小部品や複雑な構造部品を測定可能
■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる
■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載
■品質管理や生産管理における測定にも好適
■再校正（キャリブレーション）に必要な時間や労力を大幅に削減
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【ラインアップ】
■XDAL237（検出器：シリコンPINディテクター搭載）
■XDAL237 SDD（検出器：シリコンドリフトディテクター搭載）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途例】 ■0.1μmからの薄膜分析 ■電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定 ■多層膜の測定 ■品質管理における自動測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
