EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します 最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
FIB-SEMによる半導体の拡散層観察他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます！ 最終更新日： 2020-11-16 11:44:10.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
発光解析のための半導体の裏面研磨様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます 最終更新日： 2020-09-24 10:55:10.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
発熱解析による電子部品の故障箇所特定故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます 最終更新日： 2021-10-22 17:39:46.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
積層基板の斜めCT観察積層基板では各層毎の情報を得ることが可能！測長ツールを用いることで長さを測定できます 最終更新日： 2021-10-26 13:10:42.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
液晶パネルのTFT特性評価性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます！ 最終更新日： 2024-11-01 11:27:50.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【資料集】LCDパネル解析資料集LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします！ 最終更新日： 2023-10-05 17:26:17.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせソフトマテリアルの断面作製も実現！Auto Slice＆Viewで3D再構築も可能です！ 最終更新日： 2022-09-28 17:45:49.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
海外製ディスプレイの不良解析不良解析の実績多数！現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な解析が可能 最終更新日： 2023-05-26 11:32:58.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
