株式会社アイテス

ディスクリート半導体のIOL試験

最終更新日: 2024-08-05 17:17:54.0
小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に対応!

当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」について
ご紹介いたします。

常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により
温度変化によるストレスをデバイスに加えます。

通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。

【調整条件】
■上昇温度:125℃
■加熱時間:5分
■冷却時間:5分
■ファンの駆動時間:2分

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基本情報

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