一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定_C0266

最終更新日: 2021-05-28 17:02:45.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2021/4/7
固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能
通常、SIMS測定では数mm角で表面が平坦なチップを用いて分析を行いますが、1mm角以下の小さなチップや特殊な形状の試料についても固定の前処理を施すことで分析が可能です。
微量成分を調べたい試料の中には、微小チップやワイヤー状試料など、通常ではSIMS分析には適さない形状のものがあります(図1)。このような試料では固定を行った後に分析を行います(図2)。他にも試料の断面や側面、特殊な形状の試料においても前処理を施すことで分析が可能となる場合があります。

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

カタログ 【分析事例】製造装置・部品一覧(702件)を見る