一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】トランジスタ内部の状態評価_C0563

最終更新日: 2021-06-14 16:23:27.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2021/4/23
デバイス内部の異常を非破壊で評価します
外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。
X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。
その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤー周囲のモールド樹脂に亀裂が入っていることも確認されました。

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