最終更新日:
2024-03-04 13:42:54.0
【電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ】電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定するノイズ測定解析装置をご紹介
ペリテック社製電磁波ノイズ測定解析装置 EMIテスタを紹介します。
EMIテスタは電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし高感度に測定します。また、測定したデータは多彩な3Dグラフィックスで可視化します。(専用の解析ソフトが付属されています。)
【特長】
■近傍電界・磁界の同時検出、連続測定を実現 （EMV-200）
■高感度・高分解能測定が可能
■プローブ回転による配線方向によらない磁界測定の実現
■多機能な測定結果表示
■高精度なプローブ移動機構
■便利な機能
■多様なプローブが使用可能
■多くの企業での採用実績
基本情報
【新機能オプション】
■カメラ画像と合成表示
装置に設置したカメラで測定開始時に測定対象の写真撮影を行い、測定した電界・磁界の分布図と重ね合わせて表示させることが可能です。
■DEMITASNXとデータリンク
EMIテスタで測定した磁界データの分布図とDEMITASNX（NEC）で使用されたCADデータを重ね合わせて表示させることが可能です。
■時間領域の解析（APD）
Amplitude Probability Distribution(APD)と計測を多チャンネル同時に行うことが可能になり、通信品質の電磁波ノイズ源の関係解析に貢献します。
■電磁界同時計測
電磁界同時計測プローブを用いて子機器の近傍EMIを電界と磁界両方を同時に解析することができます。
| 価格情報 | お問い合わせください。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくは当社ホームページやPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
ラインナップ
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| EMV-200 | |
| EMV-100 | |
| EMV-150 | EMV-100より広範囲の測定が可能なEMIテスタです。 |
| EMI-360 | 電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を電磁界ノイズ測定システムとモーションカメラを組み合わせて3D画面上に電磁ノイズ分布を可視化します。 |
お問い合わせ
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