[X線源]
出力: 60 W(60 kV/1 mA)
オプション:30 kV/1 mA
マイクロフォーカス型X線源
(Cu、50 W/Co、15 W/Mo、50 W)
[検出器]
CPS(Curved Position Sensitive)検出器、
CPS180モデル
ガス検出器:アルゴン/エタン(85/15)
リアルタイム測定範囲:110°2θ
曲率半径:180 mm
最小記録可能角度:約1°2θ
[ゴニオメーター]
固定ゴニオメーター:可動部品なし
取得角度:0~110°2θ
非対称モードで測定
[ソフトウェア]
駆動およびデータ測定
リアルタイムでのディフラクトグラム表示
多重および自動での記録
ピーク探索
デコンボリューション:複数のプロファイル関数
結晶化度、セルパラメーター、微結晶サイズ、
格子ひずみ
相の同定と定量化
結晶構造解析
相転移
薄膜(GIXRD、反射率測定)
リートベルト解析
重量:約85 kg
寸法:高さ545 mm × 奥行580 mm × 幅680 mm
出力: 60 W(60 kV/1 mA)
オプション:30 kV/1 mA
マイクロフォーカス型X線源
(Cu、50 W/Co、15 W/Mo、50 W)
[検出器]
CPS(Curved Position Sensitive)検出器、
CPS180モデル
ガス検出器:アルゴン/エタン(85/15)
リアルタイム測定範囲:110°2θ
曲率半径:180 mm
最小記録可能角度:約1°2θ
[ゴニオメーター]
固定ゴニオメーター:可動部品なし
取得角度:0~110°2θ
非対称モードで測定
[ソフトウェア]
駆動およびデータ測定
リアルタイムでのディフラクトグラム表示
多重および自動での記録
ピーク探索
デコンボリューション:複数のプロファイル関数
結晶化度、セルパラメーター、微結晶サイズ、
格子ひずみ
相の同定と定量化
結晶構造解析
相転移
薄膜(GIXRD、反射率測定)
リートベルト解析
重量:約85 kg
寸法:高さ545 mm × 奥行580 mm × 幅680 mm