卓上型のARL EQUINOX 100 X線回折装置はコンパクトな卓上型で、材料の研究開発、動的挙動解析、製薬業界のQA/QCのルーチン分析、大学などの教育機関において、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移に関する解析などを実現します。
ARL EQUINOX 100には、独自のCPSCPS(Curved PositionSensitive)検出器を搭載しており、全回折パターン(~110°/2θ)を短時間かつ同時に測定できます。また、薄膜測定(GIXRD、XRR)が可能で、測定に応じて多種多様なアタッチメントをご用意しています。
基本情報
[X線源]
出力: 60 W(60 kV/1 mA)
オプション:30 kV/1 mA
マイクロフォーカス型X線源
(Cu、50 W/Co、15 W/Mo、50 W)
[検出器]
CPS(Curved Position Sensitive)検出器、
CPS180モデル
ガス検出器:アルゴン/エタン(85/15)
リアルタイム測定範囲:110°2θ
曲率半径:180 mm
最小記録可能角度:約1°2θ
[ゴニオメーター]
固定ゴニオメーター:可動部品なし
取得角度:0~110°2θ
非対称モードで測定
[ソフトウェア]
駆動およびデータ測定
リアルタイムでのディフラクトグラム表示
多重および自動での記録
ピーク探索
デコンボリューション:複数のプロファイル関数
結晶化度、セルパラメーター、微結晶サイズ、
格子ひずみ
相の同定と定量化
結晶構造解析
相転移
薄膜(GIXRD、反射率測定)
リートベルト解析
重量:約85 kg
寸法:高さ545 mm × 奥行580 mm × 幅680 mm
価格情報 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 薄膜分析 動的挙動解析 製薬 環境 地質学 鉱業 教育 など |
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