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ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』

最終更新日: 2022-11-09 14:57:00.0
余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能! 基本機能に特化し、省スペース・低価格を実現!

『LI700E』は、ICパッケージの端子平坦度、端子曲がり等の規定寸法検査、及び異物付着等の欠陥検査を行い、良品と不良品に分類収納します。


【特長】
■受入検査/ロム書き後の品質保証に最適
■検査項目はJEITA規定寸法測定方法に準拠
■小型・省スペース&作業は全て前面から
■余分な空トレイ不要で人手を介さない自動検査


※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【仕様】
■対象トレイ:JEDECトレイ
■装置サイズ:1,310(W)×1,660(D)×1,670(H)mm
■装置重量:約900kg
■処理能力:1,200uph(3.0sec/個)
■供給電源:三相AC200V±10% 3.5KVA(ブレーカ容量10A)
■供給エアー:0.39MPa以上(4kgf/cm2以上) 100L/min(ドライエア)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■ICパッケージの受入検査、ROM書き後の外観ダメージ(端子曲がり、キズ、異物等)検査

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