12月14日(水)~16日(金)、東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2022において、半導体製造・検査装置向けの各種エンコーダソリューションをご紹介いたします。
見どころ
■Multi-DOF多自由度測定技術
LIP 6000 Dplus: 2自由度測定用高精度インクリメンタルオープンタイプリニアエンコーダ
GAP 1081: ギャップ測定用エンコーダ
■リニアエンコーダ
LIC 3100: 高速アブソリュートオープンタイプリニアエンコーダ
MC 15: RSF社製アブソリュートオープンタイプリニアエンコーダ
■高精度角度計測
ERP 1000: 超小型角度エンコーダ
ERO 2000: インクリメンタル角度エンコーダ
MCR 15: RSF社製組込み型アブソリュート角度エンコーダ
半導体・エレクトロニクス産業向けソリューションに特化したマイクロサイトを公開中です。製品プレゼンテーション動画などの詳しい情報をご覧いただけます。
▼マイクロサイトURL▼
https://semiconductor.heidenhain.com/ja
基本情報
○○ SEMICON Japan2022出展のお知らせ ○○
開催日時: 12月14日(水)~12月16日(金) 10:00~17:00
会場: 東京ビッグサイト(東京国際展示場) 東5ホール
小間番号: 5125
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 半導体製造・検査装置 |
お問い合わせ
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ハイデンハイン株式会社