株式会社アイテス

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

最終更新日: 2023-01-12 17:18:19.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察)
FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察) 製品画像
【適応対象】
■ICパッケージ、実装・接合部品、実装基板、LSIデバイス、LCD薄膜、
 ⾦属表⾯状態、結晶粒の観察・分析など

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