【調査方法】
■外観観察
■X線観察
■電気的測定
■開封観察
■信頼性試験
■材料調査
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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■X線観察
■電気的測定
■開封観察
■信頼性試験
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関連情報
半導体製品の一連の工程のサンプル作製から信頼性評価試験、分析故障解析までトータルのソリューションを提供します。必要なサービスを必要なだけ、ご利用いただけます。
トータルソリューションとは、半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難（評価試料が準備できない／評価方法が不明、事前データが無い等）試料作製から、評価・解析まで御支援します。
【試料作製】
●ウェハ工程
■汎用TEGの手配
■ダイシング
■チップソート
■外観検査
■梱包（チップトレイ・エンボステーピング）
●パッケージング工程
■ダイボンディング
■ワイヤボンディング
■フリップチップ実装
■バンプ接合
■パッケージ組立
トータルソリューションとは、半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難（評価試料が準備できない／評価方法が不明、事前データが無い等）試料作製から、評価・解析まで御支援します。
【試料作製】
●ウェハ工程
■汎用TEGの手配
■ダイシング
■チップソート
■外観検査
■梱包（チップトレイ・エンボステーピング）
●パッケージング工程
■ダイボンディング
■ワイヤボンディング
■フリップチップ実装
■バンプ接合
■パッケージ組立
■高度加速寿命試験
内寸（最大） Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105～162.2℃/75～100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸（最大） W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃～0℃/+60℃～200℃
■恒温恒湿試験
内寸（最大） W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃～+150℃/20～98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ（最大） W320×H240×D320mm
耐荷重（最大） 10kg
温度範囲 -65℃～0℃/+60℃～150℃
内寸（最大） Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105～162.2℃/75～100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸（最大） W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃～0℃/+60℃～200℃
■恒温恒湿試験
内寸（最大） W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃～+150℃/20～98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ（最大） W320×H240×D320mm
耐荷重（最大） 10kg
温度範囲 -65℃～0℃/+60℃～150℃
■信頼性試験
・温度サイクル試験
・冷熱衝撃試験
・高温高湿バイアス試験
・高温保存試験
・高度加速寿命試験
・プリコンディション
・ホットオイル試験
・In-situ常時測定
・イオンマイグレーション試験
・エレクトロマイグレーション試験
■評価試験
・接合強度試験
プル/シェア試験
・機械的強度試験
振動・衝撃試験、落下試験、圧縮強度・ズレ強度
・ESD/Latch Up/CDM試験
・はんだ濡れ性試験
・電気特性計測
・塩水噴霧試験
・X線透過観察
・SAT（超音波顕微鏡）観察
・温度サイクル試験
・冷熱衝撃試験
・高温高湿バイアス試験
・高温保存試験
・高度加速寿命試験
・プリコンディション
・ホットオイル試験
・In-situ常時測定
・イオンマイグレーション試験
・エレクトロマイグレーション試験
■評価試験
・接合強度試験
プル/シェア試験
・機械的強度試験
振動・衝撃試験、落下試験、圧縮強度・ズレ強度
・ESD/Latch Up/CDM試験
・はんだ濡れ性試験
・電気特性計測
・塩水噴霧試験
・X線透過観察
・SAT（超音波顕微鏡）観察
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【事例】
・X線透視・CT検査装置（リフローシミュレータ）【動画あり】
・X線透視・CT検査装置（BGAはんだクラック解析事例）
・X線透視・CT検査装置（LED不良透視観察事例）【動画あり】など
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・X線透視・CT検査装置（リフローシミュレータ）【動画あり】
・X線透視・CT検査装置（BGAはんだクラック解析事例）
・X線透視・CT検査装置（LED不良透視観察事例）【動画あり】など
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【傾斜観察概要】
<デジタルマイクロスコープ：KEYENCE VHX-5000（使用レンズVH-Z50L）使用>
■-60°～+90°まで傾斜可能なレンズ機構により、実装部品の
側面などをそのまま観察することが可能
■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープにより、
サンプル全体に焦点のあった合成画像が取得できる
■電動ステージにより、高倍での連結画像の作成が可能
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<デジタルマイクロスコープ：KEYENCE VHX-5000（使用レンズVH-Z50L）使用>
■-60°～+90°まで傾斜可能なレンズ機構により、実装部品の
側面などをそのまま観察することが可能
■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープにより、
サンプル全体に焦点のあった合成画像が取得できる
■電動ステージにより、高倍での連結画像の作成が可能
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お問い合わせ
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株式会社アイテス
