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関連情報
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【その他の概要】
■SEM観察・EDX分析
・SEMで観察するとレンズ基材の上にハードコート/多層膜が施されている様子が
観察された
・多層膜ではSiO膜とNb膜が交互に積層されている様子が伺える
・さらにクリアに観察・分析するのであれば、TEMがお勧め
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■SEM観察・EDX分析
・SEMで観察するとレンズ基材の上にハードコート/多層膜が施されている様子が
観察された
・多層膜ではSiO膜とNb膜が交互に積層されている様子が伺える
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【特長】
■トリプルイオンポリッシャー(CP)
・硬・軟材料の共存する試料であっても、ダメージのない加工が可能
■ミクロトーム
・断面作製のみならず、平面傾斜切削も可能
■卓上斜め切削機
・表面情報として元の厚みの6~300倍のサンプル面を取り出すことが可能
■卓上型SEM(電子顕微鏡)
・低真空下での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や元素分析が可能
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■トリプルイオンポリッシャー(CP)
・硬・軟材料の共存する試料であっても、ダメージのない加工が可能
■ミクロトーム
・断面作製のみならず、平面傾斜切削も可能
■卓上斜め切削機
・表面情報として元の厚みの6~300倍のサンプル面を取り出すことが可能
■卓上型SEM(電子顕微鏡)
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お問い合わせ
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株式会社アイテス