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電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。
●正確な故障時間の把握が可能
決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
●正確な故障時間の把握が可能
決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
■形態観察
・レーザー顕微鏡
・SAM/SAT
・X線透視装置
・SEM/FE-SEM
■電気特性測定
・カーブトレーサ
・パワーデバイスアナライザ
■不良解析・故障解析
・EMS/IR-OBIRCH
・EBIC
■試料加工
・FIB
・回転式研磨台
・イオンポリッシャー
・斜め切削装置
■信頼性評価試験
・液槽式/気槽式 冷熱衝撃試験装置
・恒温恒湿器/バイアス試験
・恒温槽
・HAST/PCT/PCBT
・In-Situ常時測定装置
■ESD/ラッチアップ試験
・ESDテスタ(HBM/MM/CDM/ラッチアップ)
■光学特性
・全光束・光強度測定システム
■物理解析
・SEM+EDX/EPMA
・FE-TEM+EDS/EELS
・STEM+EDS
■表面分析
・AES
・XPS
・μFT-IR
・AFM
■化学分析
・GC-MS(HS/熱分解)
・LC-MS
・顕微ラマン分光装置
・レーザー顕微鏡
・SAM/SAT
・X線透視装置
・SEM/FE-SEM
■電気特性測定
・カーブトレーサ
・パワーデバイスアナライザ
■不良解析・故障解析
・EMS/IR-OBIRCH
・EBIC
■試料加工
・FIB
・回転式研磨台
・イオンポリッシャー
・斜め切削装置
■信頼性評価試験
・液槽式/気槽式 冷熱衝撃試験装置
・恒温恒湿器/バイアス試験
・恒温槽
・HAST/PCT/PCBT
・In-Situ常時測定装置
■ESD/ラッチアップ試験
・ESDテスタ(HBM/MM/CDM/ラッチアップ)
■光学特性
・全光束・光強度測定システム
■物理解析
・SEM+EDX/EPMA
・FE-TEM+EDS/EELS
・STEM+EDS
■表面分析
・AES
・XPS
・μFT-IR
・AFM
■化学分析
・GC-MS(HS/熱分解)
・LC-MS
・顕微ラマン分光装置
■高度加速寿命試験
内寸(最大) Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸(最大) W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃
■恒温恒湿試験
内寸(最大) W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm
耐荷重(最大) 10kg
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~150℃
内寸(最大) Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸(最大) W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃
■恒温恒湿試験
内寸(最大) W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm
耐荷重(最大) 10kg
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~150℃
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