一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

最終更新日: 2019-08-16 10:09:51.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像して高倍率で観察する手法です
TEM分析における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点

関連情報

[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像
電子が薄片試料を透過する際、そのまま直進して試料を透過する電子と、原子の種類や結晶性により散乱を起こす電子があります。散乱した電子は、弾性散乱電子と非弾性散乱電子に大別され、それらの電子を目的に応じて選択して結像することで試料内部の形態・結晶構造・組成・電子状態などの知見を得ます。

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