一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

[SEM]走査電子顕微鏡法

最終更新日: 2018-09-13 14:05:42.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です
SEM分析における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点

関連情報

[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像
試料に電子を当て、試料表面から放出される二次電子・反射電子・試料を透過した透過電子(要薄片化)の像を得ることができます。

加速電圧や材料により入射電子の拡がり方が異なり、それに伴い、観察している深さ(電子が出てくる深さ)も変わります。したがって、目的によって最適な加速電圧を選定する必要があります。

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