![ICの不良解析 製品画像](https://images.ipros.jp/public/product/image/1e6/2000536611/IPROS39725823556297894681.png?w=140&h=140)
【発光解析/OBIRCH解析 特長】
■発光/OBIRCH解析によりリーク箇所、あるいは関係しているネットを特定
■Layout Viewerによるレイアウト確認が可能
■カスタマイズされた装置により、様々なサンプルの解析に対応できる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■発光/OBIRCH解析によりリーク箇所、あるいは関係しているネットを特定
■Layout Viewerによるレイアウト確認が可能
■カスタマイズされた装置により、様々なサンプルの解析に対応できる
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