※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
関連情報
・TOF-SIMSはパルス状の一次イオンを照射し
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
質量の分離が出来ます。
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
質量の分離が出来ます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
【固体表面の分析 概要】
■固体試料は別途前処理を検討
■例えば、プリント基板の場合、試料を抽出液に浸漬し、加熱処理等により
試料表面のイオン性成分を抽出液に抽出
■抽出液を回収し、希釈やろ過などの溶液調整後、装置に導入し測定を行う
■測定結果は、単位面積あたりの検出量[μg/cm2]または試料抽出液濃度[mg/L]にてご報告
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■固体試料は別途前処理を検討
■例えば、プリント基板の場合、試料を抽出液に浸漬し、加熱処理等により
試料表面のイオン性成分を抽出液に抽出
■抽出液を回収し、希釈やろ過などの溶液調整後、装置に導入し測定を行う
■測定結果は、単位面積あたりの検出量[μg/cm2]または試料抽出液濃度[mg/L]にてご報告
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アイテス