最終更新日:
2019-11-07 14:50:23.0
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード
・高分解能質量スペクトル
・深さ方向分析
・表面の面分析
基本情報
・TOF-SIMSはパルス状の一次イオンを照射し
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
質量の分離が出来ます。
価格情報 | - |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ・緑顔料中のフタロシアニングリーンの分子構造 ・薄膜a-Si太陽電池の深さ方向分析 ・Siウエハ表面汚染の面分析 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アイテス