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関連情報
■特徴
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
3.空間分解能(ピクセルサイズ)
透過法/反射法 5.5um、ATR法 1.1um
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
3.空間分解能(ピクセルサイズ)
透過法/反射法 5.5um、ATR法 1.1um
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【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
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・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
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■液晶
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【分析事例】
■液晶パネルに使用されている偏光板は、トリアセチルセルロース層で
ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
■顕微ラマン分光光度計にて偏光板を深さ方向に連続して測定したところ、
表面から深さ方向に向かってTAC→PVA+I2→TAC→粘着層と変化する様子が観察できた
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ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
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【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
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当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
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【その他の測定法の特長】
■ATR法
・試料にクリスタルを通して赤外光を照射し、クリスタル界面にて
試料へわずかに潜り込んで出てきた光を測定する
・赤外光が潜り込んだ試料表層数μm程度の情報が得られる
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■ATR法
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・赤外光が潜り込んだ試料表層数μm程度の情報が得られる
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株式会社アイテス