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FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析

2024-12-13 00:00:00.0  

FT-IRとSEM-EDXを用いて有機・無機複合材の分析を行った例をご紹介します。

ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を
行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。

光沢の無い部分はアクリル樹脂のスペクトルと類似することから主成分としては
アクリル樹脂であると考えられます。

また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM…

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ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析
ICP発光分析による正極材活物質の組成分析についてご紹介します。

リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に
関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に
大きく関与します。

ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分…
2024-11-08 00:00:00.0企業ニュース
恒温恒湿試験中の槽内撮影
当社では、前面ガラス窓の恒温恒湿槽とカメラを用いて、画面表示などの
動作状態を撮影・監視を行いながらの環境試験に対応します。

恒温恒湿槽などを用いた環境試験中に試験対象物の状態確認のため、
ロガーなどを用いたモニタリング(電圧・電流・抵抗、温度等)を
行う事は広く行われています。

…
2024-11-06 00:00:00.0その他・お知らせ
光学フィルムの光透過特性
株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。

スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって
様々な機能を有しています。

のぞき見防止フィルムの角度による光透過性を測定し、断面の観察と
ラマンによる分析を組合わせて、機能発現のメカニズムを調べました。…
2024-11-06 00:00:00.0その他・お知らせ
パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築
FIB-SEMのSlice＆View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について
ご紹介いたします。

構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、
SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。

故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術と…
2024-11-06 00:00:00.0製品ニュース
SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例
Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介
いたします。

NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等
の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの
分布が⾒られます。
…
2024-10-22 00:00:00.0その他・お知らせ
吸湿ひずみの測定
当社にて、ひずみゲージを用いて吸湿乾燥時のひずみの挙動を
調べた結果についてご紹介いたします。

加湿により吸湿して膨張し除湿により乾燥して収縮して元に戻りひずみも
加湿前の状態に戻る様子が観測されました。

FR-1横については、加水分解により材質の化学構造が変化したため
元の状態に…
2024-10-09 00:00:00.0その他・お知らせ
顕微FT-IRイメージング測定
当社で行っている「顕微FT-IRイメージング測定」について
ご紹介いたします。

指定した面内において物質の分布状態を二次元画像として可視化可能。

通常の点測定だけでは難しいような物質の分布状態の変化の様子を
可視画像にて評価することが可能になります。
2024-10-03 00:00:00.0その他・お知らせ
「CP加工装置Arblade5000_ワイドエリア断面ミリング」のご案内
当社では、「CP加工装置Arblade5000_ワイドエリア断面ミリング」を
ご提供しております。

「Arblade5000」は、高ミリングレートとワイドエリア断面ミリング機能を
組み合わせることで広範囲の加工が可能。

ワイドエリア断面ミリングホルダにより断面ミリング加工幅を最大10…
2024-09-09 00:00:00.0企業ニュース
ディスクリート半導体のIOL試験
当社では「ディスクリート半導体のIOL試験」を行っています。

常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により
温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)は
ファンによる強制冷却も行います。

また、試験実施前に代表サンプルを使用し…
2024-07-31 00:00:00.0企業ニュース
薬液処理による⾦属組織観察
薬液処理による⾦属組織観察についてご紹介します。

⾦属試料の薬品処理を⾏う事で⾦属組織を明瞭に観察する事が可能。
組織を観察する事で試料の状態や熱、応⼒などの印加履歴などが確認出来る
事があり、組織形状から製品の出来具合や不具合調査の⼿がかりが得られます。

掲載カタログにて、アルミニ…
2024-07-26 00:00:00.0製品ニュース
「顕微FT-IR」のご紹介
株式会社アイテスでは、今年度新たに「顕微FT-IR」を追加導入しました。

FT-IRと光学顕微鏡を組み合わせた「顕微FT-IR」ではアパーチャ(視野絞り)
によって通常のFT-IRでは測定困難な数十μm程度の微小物質も
測定することが出来ます。

顕微FT-IRには大きく分けて「透過法…
2024-07-18 00:00:00.0製品ニュース
機械研磨による半導体の観察例
半導体の構造観察や不良解析における断面作製方法には、CPやFIB、
機械研磨が挙げられますがそれぞれ一長一短あり、どの方法で作製するのか
検討が必要です。

近年ではCPやFIBが一般的になってきており技術を要する機械研磨は
減りつつあるように感じます。しかし、まだまだ捨てたものではござい…
2024-06-28 00:00:00.0製品ニュース
冷熱衝撃試験のひずみ測定
当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。

冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、
ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを
リアルタイムで記録。

二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観…
2024-06-06 00:00:00.0製品ニュース