製品サービス
製品・サービス
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【測定法】質量分析法(72)
◆SIMS（二次イオン質量分析法） ◆TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法） ◆TG-DTA-MS（示差熱天秤質量分析法） ◆GC/MS（ガスクロマトグラフィー質量分析法 ） ◆LC/MS（液体クロマトグラフィー質量分析法） ◆LC/MS/MS（液体クロマトグラフィー質量分析法）
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【測定法】光電子分光法(8)
◆XPS（X線光電子分光法） ◆UPS（紫外光電子分光法）
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【測定法】電子顕微鏡観察・分析(27)
◆AES（オージェ電子分光法） ◆SEM（走査電子顕微鏡法） ◆EBIC（電子線誘起電流法) ◆EBSD（電子後方散乱回折法） ◆EDX（エネルギー分散型X線分光法） ◆EPMA（電子線マイクロ分析法） ◆TEM（透過電子顕微鏡法） ◆EELS（電子エネルギー損失分光法) ◆SIM（走査イオン顕微鏡法)
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【測定法】振動分光(8)
◆FT-IR（フーリエ変換赤外分光法） ◆Raman（ラマン分光法）
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【測定法】X線回折関連(22)
◆XRD（X線回折法） ◆XRR（X線反射率法） ◆SAXS（X線小角散乱法）
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【測定法】SPM関連(18)
◆AFM（原子間力顕微鏡法） ◆SCM（走査型静電容量顕微鏡法） ◆SMM（走査型マイクロ波顕微鏡法） ◆SSRM（走査型広がり抵抗顕微鏡法） ◆SRA（広がり抵抗測定法）
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【測定法】故障解析(18)
◆［EMS］エミッション顕微鏡法 ◆［OBIRCH］光ビーム加熱抵抗変動法 ◆ロックイン発熱解析法
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【測定法】そのほかの測定法(56)
◆白色干渉計測法 ◆EMS（エミッション顕微鏡法）
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【加工法・処理法】(14)
【加工法・処理法】 ◆FIB法（集束イオンビーム) ◆SSDP用加工（基板側からの測定用加工） ◆IP法（Arイオン研磨加工） ◆雰囲気制御下での処理 ◆クライオ加工
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その他のサービス・サポート情報(17)
FAQやサンプルの送付方法など、分析をご依頼いただくにあたっての情報を掲載いたします。また、無料のセミナーも開催しております。
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【分析事例】LSI・メモリ(127)
LSI・メモリの分析事例をご紹介します
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【分析事例】光デバイス(35)
光デバイスの分析事例をご紹介します
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【分析事例】太陽電池(52)
各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します
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【分析事例】燃料電池(15)
燃料電池の分析事例をご紹介します
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【分析事例】ディスプレイ(69)
ディスプレイの分析事例をご紹介します
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【分析事例】酸化物半導体(39)
酸化物半導体の分析事例をご紹介します
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【分析事例】パワーデバイス(88)
パワーデバイスの分析事例をご紹介します
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【分析事例】電子部品(116)
電子部品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】二次電池(59)
各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します
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【分析事例】照明(49)
照明の分析事例をご紹介します
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【分析事例】製造装置・部品(85)
製造装置・部品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】バイオテクノロジ(47)
バイオテクノロジの分析事例をご紹介します
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【分析事例】化粧品(81)
化粧品の分析事例をご紹介します。
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【分析事例】食品(82)
食品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】医薬品(79)
医薬品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】医療機器(6)
医療機器の分析事例をご紹介します
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【分析事例】日用品(108)
日用品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】環境(34)
環境の分析事例をご紹介します
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【分析事例】その他(21)
その他の分析事例をご紹介します
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MSTが出展した展示会の資料(1)
MSTが出展した展示会で配布した資料・展示したパネルなどをご紹介します。 展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。