製品・サービス

製品・サービス一覧

【測定法】質量分析法 (36)

◆SIMS（二次イオン質量分析法）
◆TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）
◆TG-DTA-MS（示差熱天秤質量分析法）
◆GC/MS（ガスクロマトグラフィー質量分析法）
◆LC/MS（液体クロマトグラフィー質量分析法）
◆LC/MS/MS（液体クロマトグラフィー質量分析法）
【測定法】光電子分光法 (6)

◆XPS（X線光電子分光法）
◆UPS（紫外光電子分光法）
【測定法】電子顕微鏡観察・分析 (18)

◆AES（オージェ電子分光法）
◆SEM（走査電子顕微鏡法）
◆EBIC（電子線誘起電流法)
◆EBSD（電子後方散乱回折法）
◆EDX（エネルギー分散型X線分光法）
◆EPMA（電子線マイクロ分析法）
◆TEM（透過電子顕微鏡法）
◆EELS（電子エネルギー損失分光法)
◆SIM（走査イオン顕微鏡法)
【測定法】振動分光 (3)

◆FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）
◆Raman（ラマン分光法）
【測定法】X線回折関連 (6)

◆XRD（X線回折法）
◆XRR（X線反射率法）
◆SAXS（X線小角散乱法）
【測定法】SPM関連 (11)

◆AFM（原子間力顕微鏡法）
◆SCM（走査型静電容量顕微鏡法）
◆SMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）
◆SSRM（走査型広がり抵抗顕微鏡法）
◆SRA（広がり抵抗測定法）
【測定法】故障解析 (7)

◆［EMS］エミッション顕微鏡法　◆［OBIRCH］光ビーム加熱抵抗変動法　◆ロックイン発熱解析法
【測定法】そのほかの測定法 (40)

◆白色干渉計測法
◆EMS（エミッション顕微鏡法）
【加工法・処理法】 (8)

【加工法・処理法】
◆FIB法（集束イオンビーム)
◆SSDP用加工（基板側からの測定用加工）
◆IP法（Arイオン研磨加工）
◆雰囲気制御下での処理
◆クライオ加工
その他のサービス・サポート情報 (18)

FAQやサンプルの送付方法など、分析をご依頼いただくにあたっての情報を掲載いたします。また、無料のセミナーも開催しております。
【分析事例】LSI・メモリ (127)

LSI・メモリの分析事例をご紹介します
【分析事例】光デバイス (34)

光デバイスの分析事例をご紹介します
【分析事例】太陽電池 (48)

各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します
【分析事例】燃料電池 (13)

燃料電池の分析事例をご紹介します
【分析事例】ディスプレイ (65)

ディスプレイの分析事例をご紹介します
【分析事例】酸化物半導体 (38)

酸化物半導体の分析事例をご紹介します
【分析事例】パワーデバイス (87)

パワーデバイスの分析事例をご紹介します
【分析事例】電子部品 (110)

電子部品の分析事例をご紹介します
【分析事例】二次電池 (49)

各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します
【分析事例】照明 (45)

照明の分析事例をご紹介します
【分析事例】製造装置・部品 (75)

製造装置・部品の分析事例をご紹介します
【分析事例】バイオテクノロジ (42)

バイオテクノロジの分析事例をご紹介します
【分析事例】化粧品 (77)

化粧品の分析事例をご紹介します。
【分析事例】食品 (77)

食品の分析事例をご紹介します
【分析事例】医薬品 (74)

医薬品の分析事例をご紹介します
【分析事例】医療機器 (6)

医療機器の分析事例をご紹介します
【分析事例】日用品 (93)

日用品の分析事例をご紹介します
【分析事例】環境 (35)

環境の分析事例をご紹介します
【分析事例】その他 (19)
その他の分析事例をご紹介します
MSTが出展した展示会の資料 (1)

MSTが出展した展示会で配布した資料・展示したパネルなどをご紹介します。

展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。