【分析事例】照明 一覧

【分析事例】照明用発光素子の総合評価

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

最終更新日： 2024-06-06 09:29:11.0

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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価

雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

最終更新日： 2016-08-24 14:06:04.0

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【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

最終更新日： 2016-08-25 14:21:15.0

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【分析事例】有機EL素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 13:21:45.0

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

最終更新日： 2023-04-19 17:47:47.0

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【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

最終更新日： 2016-03-01 11:36:47.0

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【分析事例】UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

最終更新日： 2016-08-25 13:43:50.0

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【分析事例】マイクロサンプリング法

FIB：集束イオンビーム加工

最終更新日： 2024-05-28 13:47:29.0

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【分析事例】有機EL材料(OLED)のRGB素子深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価

最終更新日： 2023-04-20 17:42:26.0

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-25 14:23:00.0

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【分析事例】MSDMについて

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-03-18 13:16:37.0

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-18 13:03:36.0

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【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:32:12.0

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【分析事例】有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

最終更新日： 2016-03-16 13:07:24.0

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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:58:04.0

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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

最終更新日： 2016-03-15 14:41:09.0

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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:30:03.0

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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

最終更新日： 2016-03-15 13:23:03.0

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【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理

XPS：Ｘ線光電子分光法

最終更新日： 2016-03-11 13:50:19.0

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【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 14:49:28.0

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【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能

最終更新日： 2016-08-25 14:54:18.0

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【分析事例】SiC基板の品質評価

結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

最終更新日： 2023-04-04 09:49:50.0

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【分析事例】GaN系LED構造中不純物の深さ方向濃度分析

目的に応じた分析条件で測定します

最終更新日： 2016-08-25 14:45:12.0

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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

最終更新日： 2016-03-09 15:22:01.0

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【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

最終更新日： 2016-08-25 14:47:25.0

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【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

最終更新日： 2016-08-25 14:46:23.0

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【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

最終更新日： 2016-03-01 14:21:27.0

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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

最終更新日： 2016-08-25 09:03:48.0

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【分析事例】GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定

熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて

最終更新日： 2016-03-01 09:40:37.0

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