一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

最終更新日: 2020-02-14 10:04:35.0
高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微鏡法)の基礎知識や分析事例を収録

TEM(透過電子顕微鏡法)は、薄片化した試料に電子を照射し、
試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。

MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と
代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中!

写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。

【掲載内容(一部)】
<TEMの基礎>
 ■TEM、STEMで何がわかるか ■TEM、STEMの特徴
 ■試料作製方法       ■コントラストの要因
 ■TEM、STEMの使い分け   ■超高分解能HAADF観察
<TEMの応用と事例>
 ■分析事例
  ・雰囲気制御&冷却下でのTEM分析
  ・SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価
  ・微細トランジスタの構造評価

※小冊子をご希望の方は「お問い合わせ」より、
 “カタログ送付希望”の欄にチェックを入れてお申し込みください。
(ダウンロードいただけるPDF資料は冒頭の数ページとなります)

基本情報

当社では、TEMによる分析をはじめ、様々な受託分析サービスを行っています。
貴社にお伺いし、本資料を元に訪問セミナーを実施することも可能です。
詳しくはお問い合わせください。

※同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りすることがおります。あらかじめご了承ください。

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