表面分析のご検討に役立つ基礎解説・分析事例をまとめてご紹介します。
お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。
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基本情報
★掲載内容★
■表面分析の基礎
・表面分析とは?
・表面分析の使い分け
・XPS分析でできること
・TOF-SIMS分析でできること
・XPS,TOF-SIMS分析でできること
■各手法の詳細情報
・XPS X線光電子分光法
・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法
■分析事例
・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価
・Cu表面の酸化状態の定量
・XPS多点測定による広域定量マッピング
・XPSによるDLCの評価
・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量
・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査
・ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
・ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価
・粘着シートによる電子部品の汚染評価
・ニッケルめっき剥離面の評価
・ポリカーボネートの劣化層の評価
・注射針表面のコーティング膜評価
・三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価 他
価格情報 | 0 |
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納期 |
~ 1週間 ※ 受付順に順次発送対応いたします。 |
用途/実績例 | 分析の検討にご覧ください |
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お問い合わせ
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