位置精度や解像度チェックを目的に、FA分野のお客様からお引合い多数。アフターサポートとしてキズ修正・再コーティング等にも対応
竹田東京プロセスサービスの『校正用プレート』は、
透明な素材（PET ・ガラス）に対し、高精度・高解像度のパターンを形成した製品です。
パターンの形状は、光学デバイスの解像度チェックを目的として、点ないし線状のチャートを規則的に配列したもの、
位置精度のチェックを目的としてドットパターンや十字マークを規則的に配列したものなどがあります。
当社のフォトマスクは、工程ごとの厳しい品質管理を徹底するとともに、最新装置を駆使した短納期・低コストを実現することで、
半導体・電子部品・プリント基板・LCD等向けに、お客様の様々なご要求にお応えしています。
【特長】
■透明な素材（PET ・ガラス）に対し、高精度・高解像度のパターンを形成
■測定公差
・校正事業者登録制度の下で認定された業者による外部校正も可能
・校正証明を付与し、トレーサビリティが取れていることを確認できる
■アフターサポート：キズ修正/再コーティング/洗浄
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【コーティング TC3 概要】
■材質：Crガラス向け
■目的：清掃性・防汚性の向上
■透過率：95％以上
■膜厚：10 +10/-5nm
■接触角：100°以上
■耐溶剤性：アセトン・IPAで変化なし
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■材質：Crガラス向け
■目的：清掃性・防汚性の向上
■透過率：95％以上
■膜厚：10 +10/-5nm
■接触角：100°以上
■耐溶剤性：アセトン・IPAで変化なし
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 |
【用途】 ■光学デバイスの解像度チェック ■駆動デバイスの位置精度チェック |
関連ダウンロード
駆動/光学デバイスの位置精度や解像度チェック用『校正用プレート』
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
お問い合わせ
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竹田東京プロセスサービス株式会社
