【TOF-SIMSの事例】Liの分析
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2023-01-12 17:18:20.0技術資料・事例集
発熱解析による電子部品の故障箇所特定
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2023-01-12 17:18:19.0製品カタログ
ナイロン6.10の構造解析
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2023-01-12 17:17:49.0製品カタログ
MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析
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【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します
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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析
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XPSによるバンドギャップの簡易測定
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真贋調査（比較観察）
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【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析
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【資料】透明樹脂のFT-IR分析
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光硬化樹脂中重合開始剤の分析
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【資料】MEMS部品の構造解析
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【資料】EPMA分析例 その2
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表面分析ガイド
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【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析
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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ
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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）
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BGA・CSP はんだの評価
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【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します
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メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス
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試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について
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【SEMによる断面観察】コネクタめっき
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【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析
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【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）
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【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価
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【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～
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【資料】EPMA分析例
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『化学分析の流れ』
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【資料】信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニューサービス
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【資料】高分子構造変化の解析
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【資料】EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析によるPTP梱包シート分析
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【資料】自記分光光度計による透過率測定サービス
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似て非なる物の解析基本手法
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EDX分析時の加速電圧の違いによる変化
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素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価
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EPMA分析における7つの分光結晶
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劣化破断したカニカンの分析と超微小硬度測定
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SEMの観察条件による見え方の違い
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ランプ加熱試験（赤外線照射試験）
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樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか？
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SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度
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色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価
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パネル偏光板劣化解析
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分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！
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透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス
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ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察
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大型試料の断面観察(膨張弁)
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アルミ溶接部の観察
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![EBSDによる結晶解析(アルミ溶接部[スポット溶接])210302.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/920/572511/IPROS91026835450335084663.jpeg?w=100&h=100)
【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部（スポット溶接）
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2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
信頼性試験から観察までトータルコーディネート
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【資料】ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析
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実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)
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銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析
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樹脂材料（半導体 LED用途）の分析
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有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？
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化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR
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化学反応機構研究所材料劣化解析（PETの分解・劣化）
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