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ナイロン6.10の構造解析

最終更新日: 2023-01-12 17:17:49.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析
イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析 製品画像
■特徴

１．測定方法
　　イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示

２．測定領域
　　透過法/反射法　175um、ATR法/35um

３．空間分解能（ピクセルサイズ）
　　透過法/反射法　5.5um、ATR法　1.1um
微小異物分析のためのサンプリング技術
微小異物分析のためのサンプリング技術 製品画像
■さらに強化されたマイクロサンプリングツール
　新規導入されたマイクロサンプリングツールは
　顕微鏡下でマニュピレータを用い
　正確に狙った異物を捕らえます

■5umに満たない微小異物でも
　多数集めてFT-IRにて測定することが可能です
【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計
【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像
【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
異物分析のための試料加工技術
異物分析のための試料加工技術 製品画像
【多層膜中に埋もれた異物の掘り出し】
■多層薄膜中の異物
■⾯層の切り取り
■Siウェハ上に載変えサンプリングFT-IR分析
■超音波振動する切削刃を動かして切削

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分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！
分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！ 製品画像
【その他の特長】
＜観察装置例＞
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM（ULTRA55）
■FIB-SEM

＜信頼性試験装置例＞
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー

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『化学分析の流れ』
『化学分析の流れ』 製品画像
当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。

製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
表面分析ガイド
表面分析ガイド 製品画像
【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング

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