※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最終更新日:
2023-01-12 17:19:24.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
イオンマイグレーション評価の概略及び試験実施内容を掲載しています!
信頼性評価手法の1つであるイオンマイグレーション評価試験は、製品の
軽短小への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。
当資料では、当社での評価試験の一例を使用してイオンマイグレーション評価の
概略及び試験実施内容を掲載。
評価試験において使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性についても
ご紹介します。
【掲載内容】
■はじめに
■イオンマイグレーション
■イオンマイグレーション評価試験
■評価方法
■評価試験事例
■むすび
■参考文献
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
関連情報
【その他の掲載内容(抜粋)】
■被覆Pdの確認
■Cuグレインの観察
■Cu-Al化合物の確認
■Al電極上の酸化膜の確認
■接合中央部のCu-Al化合物と微小ボイド
■接合中央部の化合物とボイドの特徴的配列
■Cu-Al化合物の成長(拡散)
■パッケージ開封後のAl接合面の観察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■被覆Pdの確認
■Cuグレインの観察
■Cu-Al化合物の確認
■Al電極上の酸化膜の確認
■接合中央部のCu-Al化合物と微小ボイド
■接合中央部の化合物とボイドの特徴的配列
■Cu-Al化合物の成長(拡散)
■パッケージ開封後のAl接合面の観察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【その他の掲載内容(抜粋)】
■結果及び考察
・ボンディング部の観察
・断面作製法の選択
・被覆Pdの分布
・EBSDによるCuグレインの観察
・Cu-Al接合界面
・開封エッチング後のAl 接合面の観察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■結果及び考察
・ボンディング部の観察
・断面作製法の選択
・被覆Pdの分布
・EBSDによるCuグレインの観察
・Cu-Al接合界面
・開封エッチング後のAl 接合面の観察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【仕様】
試験電圧 :最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ)
試験数量 :最大30個 (正極側)
対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相談:ソケット調達可)
測定内容 :漏れ電流のモニタリング
試験装置 :温度制御範囲 105.0℃~142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH~100%RH
圧力範囲 0.020~0.196MPa(ゲージ圧)
【試験条件例】
JESD22-A110E 、 JEITA ED-4701-100A(試験方法302A) 等
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験電圧 :最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ)
試験数量 :最大30個 (正極側)
対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相談:ソケット調達可)
測定内容 :漏れ電流のモニタリング
試験装置 :温度制御範囲 105.0℃~142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH~100%RH
圧力範囲 0.020~0.196MPa(ゲージ圧)
【試験条件例】
JESD22-A110E 、 JEITA ED-4701-100A(試験方法302A) 等
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【傾斜観察概要】
<デジタルマイクロスコープ:KEYENCE VHX-5000(使用レンズVH-Z50L)使用>
■-60°~+90°まで傾斜可能なレンズ機構により、実装部品の
側面などをそのまま観察することが可能
■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープにより、
サンプル全体に焦点のあった合成画像が取得できる
■電動ステージにより、高倍での連結画像の作成が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
<デジタルマイクロスコープ:KEYENCE VHX-5000(使用レンズVH-Z50L)使用>
■-60°~+90°まで傾斜可能なレンズ機構により、実装部品の
側面などをそのまま観察することが可能
■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープにより、
サンプル全体に焦点のあった合成画像が取得できる
■電動ステージにより、高倍での連結画像の作成が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【試験例】
■温度サイクル試験
・実環境に近いストレスを与えることが可能
・高い冷却能力を持っているため、発熱の多い試料でも温度の維持ができる
■温湿度サイクル試験(結露試験)
・温度サイクルに湿度も合わせて制御する、温湿度サイクル試験に対応可能
・試験内容に沿ってプログラムの設定を行う
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■温度サイクル試験
・実環境に近いストレスを与えることが可能
・高い冷却能力を持っているため、発熱の多い試料でも温度の維持ができる
■温湿度サイクル試験(結露試験)
・温度サイクルに湿度も合わせて制御する、温湿度サイクル試験に対応可能
・試験内容に沿ってプログラムの設定を行う
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【仕様・サービス内容】
■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能
■印加電流:最大14mA
■試験数量:最大8個(電源独立)
■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談)
■測定内容:リーク電流のモニタリング
■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)
■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能
■印加電流:最大14mA
■試験数量:最大8個(電源独立)
■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談)
■測定内容:リーク電流のモニタリング
■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アイテス