株式会社アイテス

パワーサイクル試験と特性評価

最終更新日: 2023-01-12 17:18:58.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

パワーサイクル試験と特性評価
パワーサイクル試験と特性評価 製品画像
【装置概要】
<シーメンス(メンター)「PWT2400A」>
■加熱用電源600A×4台を装備
■ゲート用電源-10V~20V×16台を装備
■最大16chのデバイスを同時に試験
■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定
■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施
■最高200℃まで対応した冷却プレートを装備
■TOパッケージ用の治具も標準で装備
■水冷式のモジュールにも対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験
ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験 製品画像
【試験例】
■温度サイクル試験
 ・実環境に近いストレスを与えることが可能
 ・高い冷却能力を持っているため、発熱の多い試料でも温度の維持ができる
■温湿度サイクル試験(結露試験)
 ・温度サイクルに湿度も合わせて制御する、温湿度サイクル試験に対応可能
 ・試験内容に沿ってプログラムの設定を行う

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワーデバイスのHAST試験
パワーデバイスのHAST試験 製品画像
【仕様】
 試験電圧 :最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ)
 試験数量 :最大30個 (正極側)
 対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相談:ソケット調達可)
 測定内容 :漏れ電流のモニタリング
 試験装置 :温度制御範囲 105.0℃~142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH~100%RH
       圧力範囲 0.020~0.196MPa(ゲージ圧)

【試験条件例】
 JESD22-A110E 、  JEITA ED-4701-100A(試験方法302A) 等

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超音波顕微鏡『SAM』
超音波顕微鏡『SAM』 製品画像
【その他の仕様】
■最大測定範囲:314mm×314mm 最小ピッチ:0.5μm
■画像取得数(1スキャン):100枚(ゲート)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V) 製品画像
【仕様・サービス内容】
■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能
■印加電流:最大14mA
■試験数量:最大8個(電源独立)
■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談)
■測定内容:リーク電流のモニタリング
■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)

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