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関連情報
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
■LCD製品の信頼性試験
豊富な試験メニュー
試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
迅速・的確な解析を実現します
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【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
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■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
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【その他の掲載内容】
■LCP分子構造解説(一例)
■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
■低分子液晶構造解説(一例)
■GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、および検出物質
■液晶構造機能解説
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■低分子液晶
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【解析内容(抜粋)】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
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・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
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【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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■セグメント液晶
■パッシブ液晶
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【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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■レーザーマイクロスコープ
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【掲載分析サンプル】
■ポリエチレン
■ポリプロピレン
■ポリスチレン
■塩化ビニル(塩ビ)
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■ポリプロピレン
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【その他特長】
<DCバイアスストレス試験>
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能
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【FIB-SEM複合装置概要】
■垂直方向にSEMカラム、斜め方向にFIBカラムを搭載
■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能
■加工位置精度の向上
■大気非暴露で観察、分析可能
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■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能
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【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
・輝点/滅点
・ムラの発生
・異常加熱
・外観破損
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■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
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【セル解体観察の観察内容】
■シール材とPI膜の状態確認
■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか
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株式会社アイテス