最終更新日:
2023-05-26 11:32:58.0
不良解析の実績多数！現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な解析が可能
当社では、「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。
現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった
生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。
点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。
不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。
【詳細解析例(一部)】
■配線の断面観察
■異物分析
■液晶成分分析
■電気特性測定
※別途費用が発生いたします
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
・SEGの表示欠け
・SEGの部分表示欠け
・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
・輝線/滅線
・輝点/滅点
・ムラの発生
・異常加熱
・外観破損
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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