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エネルギー分散X線分光法(EDS)

最終更新日: 2023-01-12 17:17:50.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

エネルギー分散X線分光法(EDS)
エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像
【その他のEDSによる分析】
■線分析
 ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルすることができる
 ・層状に異なる組成が存在している試料に対し有効な場合がある
■面分析
 ・各元素の分布を2次元的に見ることができる
 ・いくつかの元素を重ね合わせた画像を表示することも可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面
【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像
【その他のEDSによる分析の特長】
■面分析
 ・各元素の分布を2次元的に見ることができる
 ・複数の元素を重ね合わせた画像を表示することも可能

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SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度 製品画像
【EDX分析結果】
■加速10kVではAuめっき下層のNiは検出されていないが、加速電圧12kV以上だと
 下層のNiが検出されている
■加速電圧を上げると何故、下層の情報を検出するのか、モンテカルロ
 シミュレーションにて確認

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形状記憶合金の変態温度測定
形状記憶合金の変態温度測定 製品画像
【元素分析による組成解析】
■元素分析を行うと、変態温度が氷点下であった形状記憶合金Cでは、
 A,Bに比べTi/Niの比が異なる事が分かった
■一方、形状記憶合金AとBではTi/Ni比に大きな差異は見られなかった
■ニッケルチタン系形状記憶合金では、Ti/Ni比が変態温度に影響を及ぼす事が
 知られており、Ni量が多くなると変態温度は下がるとされている
■AとBの変態温度の差は、製造時の処理の差により結晶状態に差が
 出ている可能性が考えられる
■DSCは形状記憶合金の様に、相変態に伴う熱エネルギーの出入りを捉える事が可能
■Ni:A49.2、B49.5、C55.5
■Ti:A50.8、B50.5、C44.5

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