最終更新日:
2020-07-31 09:48:06.0
Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較できます
EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折
パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに
定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や
応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。
Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、
IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径の半化を
比較することができます。
【特長】
■個々の結晶の方位情報を取得しマップ化
■結晶方位、結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【Cu板における圧縮前後での変化観察】
■IQマップ
■GRODマップ
■IPFマップ(Axis3方向)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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