Arイオンミリング加工
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
最終更新日：
2016-02-18 11:32:02.0
［RBS］ラザフォード後方散乱分析法
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
最終更新日：
2016-02-18 11:48:26.0
OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）
OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です
最終更新日：
2023-04-20 10:55:22.0
［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。
最終更新日：
2019-03-20 11:23:36.0
［Slice&View］三次元SEM観察法
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
最終更新日：
2016-02-18 13:28:55.0
ＰＶ（太陽電池）各種評価事例集
太陽電池（ＰＶ）の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価などの事例集です。国際太陽電池展でも展示した内容です。
最終更新日：
2024-05-28 13:47:29.0
研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」
お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供。
最終更新日：
2024-05-28 13:47:29.0
【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
最終更新日：
2024-05-28 13:47:29.0
【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価
急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第25回インターフェックスジャパンでデータ展示★
最終更新日：
2024-05-28 13:47:29.0
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