一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

[XRD]X線回折法

最終更新日: 2023-03-27 16:47:49.0
XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

・結晶性物質の同定が可能
・結晶子サイズの評価 (数nm~100nm)が可能
・結晶化度の評価が可能
・配向性の評価が可能
・歪み量・応力の評価が可能
・非破壊で分析が可能

保有装置の特徴
・室温~1100℃までの加熱分析が可能
・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能
・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能

基本情報

XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。
格子面間隔をd、 X線の入射角をθとした場合、第1面と第2面の行路差(-)は 2d sinθ となります。行路差が入射X線の波長λの整数倍の時に散乱X線が強め合い、ブラッグの法則が成り立ちます。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価
・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定
・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析
・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価

詳細情報

打ち合わせ.jpg
まずはご相談ください
★分析プランのご提案から行います★
御社へ伺ってのお打ち合わせも、もちろん可能。
分析結果のご説明も丁寧に行い、疑問を残しません。
まずは03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!
セミナー.jpg
訪問セミナー実施します
★お客様のニーズに合わせた技術者訪問のセミナーを無料で承っております★
お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。

◆セミナー内容例
・MSTの分析手法を広く解説
・特定の分析手法を原理からじっくり、詳しく解説
・お客様がご依頼の分析データを解説

03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST