株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

BCI 試験システム

最終更新日: 2019-05-14 17:07:03.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

搭載電子機器に接続されたハーネスに強い電磁界ノイズが誘起した際の耐性を評価する試験
搭載電子機器に接続されたハーネスに強い電磁界ノイズが誘起した際の耐性を評価する試験システムです。シールドルームまたは電波暗室内で束ねられた線に対しインジェクションプローブを用いて規定の周波数および試験レベルの電磁ノイズを誘起し、耐性を評価します。試験方法は実測法と置換法の2種があります。

● 周波数範囲やハーネス径に適したインジェクションプローブやカレントモニタプローブのご提供ができます。
● 試験の再現性を向上させるためのオプション冶具を多数ご用意しています。
● さまざまな試験規格に対応した擬似電源回路網(LISN・AN)をご案内できます。

関連情報

BCI 試験システム
BCI 試験システム 製品画像

【仕様】
■測定周波数範囲:1MHz~2GHz
■試験レベル:200mA
■変調方式:AM 1kHz 80%, PM t on 577μsec., period 4600μsec
■準拠規格名
 ・SAE J1113/4,ISO 11452-4,ISO 11451-4,
  JASO D012,JASO D011 その他各社メーカー規格

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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