最終更新日:
2021-07-13 10:26:40.0
400～1700nmの波長帯を検出し、可視＋SWIR画像を取得可能です。【検査の様子がわかる資料進呈中！】
400nm～1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場！
カメラ1台で可視＋SWIR画像を取得できます。
【SWIR帯域下での検査のメリット】
■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いが判別可能。
■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物の有無や量、異物の混在が判別可能。
■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。
これらの特長を活かし、ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理などの様々なアプリケーションへの活用が期待されます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
基本情報
モデル名： VCC-SXCXP1SW
センサ：SONY SenSWIR IMX990 (SWIR)
センササイズ：1/2型
ユニットセルサイズ：5×5µm
有効画素数：1296×1032
解像度：SXGA
フレームレート：134.73fps(8bit)、125.2fps(10bit)、71.52fps(12bit)
レンズマウント：Cマウント
外形寸法：65×65×65mm
製品ステータス：受注受付中
その他特徴：BNCコネクタ、外部トリガ、ROI、照明トリガ制御、検出波長帯400-1700nm、低価格化を実現
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | VCC-SXCXP1SW |
| 用途／実績例 | ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理など |
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