最終更新日:
2023-04-18 16:12:23.0
高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場！
最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。
【SWIRカメラ活用例】
■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。
■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易化。
■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率の違いにより異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別。
■液体の種類により光を吸収/透過するので、内容物の有無や量、異物の混在を判別。
■ボトルのラベルや、プラスチックの菓子袋を透過して内容物を確認。
■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。
これまではSXGA解像度の”VCC-SXCXP1SW”をご用意していましたが、この度、最大21Mの高解像度な画素ずらし版SWIRカメラ“VCC-SXCXP1SWPS”が新登場しました。
弊社独自開発の圧電素子を組み込んだアクチュエータをカメラに搭載し、より高精細な撮像が可能です。
基本情報
【SWIRカメラ 画素ずらし版】
製品名：VCC-SXCXP1SWPS-9(9回ずらしモデル/5M・12M解像度)
VCC-SXCXP1SWPS-16(16回ずらしモデル/5M・21M解像度）
センサ： 1/2型 SenSWIR IMX990
インターフェース：CXP3×1レーン
有効画素数：1296×1032
レンズマウント：Cマウント
外形寸法：65×65×95mm
その他特徴：外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ設定、検出波長帯：400nm～1700nm、PoCXP非対応
【SWIRカメラ 通常品】
製品名：VCC-SXCXP1SW
外形寸法：65×65×65mm
その他特徴：PoCXP対応、その他機能は概ね画素ずらし版と同じ
その他詳細やデモ機については弊社営業部までお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 【画素ずらし版】VCC-SXCXP1SWPS-9/VCC-SXCXP1SWPS-16【通常版】VCC-SXCXP1SW |
| 用途／実績例 | ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理、セキュリティ、研究/解析用途、医療用途等 |
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