※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
関連情報
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【測定例】
■Ga2O3のバンドギャップ:O1sを測定
■SiCのバンドギャップ:Si2pを測定
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■Ga2O3のバンドギャップ:O1sを測定
■SiCのバンドギャップ:Si2pを測定
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アイテス