株式会社アイテス

XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

最終更新日: 2023-01-12 17:18:59.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

『化学分析の流れ』
『化学分析の流れ』 製品画像
当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。

製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
表面分析ガイド
表面分析ガイド 製品画像
【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング

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XPSによるバンドギャップの簡易測定
XPSによるバンドギャップの簡易測定 製品画像
【測定例】
■Ga2O3のバンドギャップ:O1sを測定
■SiCのバンドギャップ:Si2pを測定

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