最終更新日:
2021-08-24 09:32:44.0
様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します
当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り
ごとの解決に向けてお役立て致します。
微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し
オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が
可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。
ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。
【分析手法】
■EDX(EDS)：エネルギー分散型X線分析
■AES：オージェ電子分光分析
■XPS(ESCA)：X線光電子分光分析
■TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【適用例】 ■EDX：微小異物分析、マイグレーション観察 ■AES：パッドの変色分析、酸化膜厚測定、ボンディング不良解析 ■XPS：基板表面の汚染分析、表面酸化の評価 ■TOF-SIMS：有機物・無機物汚染の分析、膜はじき異物の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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