株式会社アイテス

LCDパネル良品解析

最終更新日: 2023-01-12 17:19:00.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

LCDパネル良品解析
LCDパネル良品解析 製品画像
【解析内容(抜粋)】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察

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液晶パネルのTFT特性評価
液晶パネルのTFT特性評価 製品画像
【その他特長】
<DCバイアスストレス試験>
■Gate、Drainに任意のDCバイアスを印加し、TFTにストレスを与えたときの
 Vthシフトを測定し、信頼性確認を行う
■加速試験として、加温状態でも測定できる
■複数のパネルメーカにて測定を行い、Vthシフト量を比較することで、優位判定も可能

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液晶ディスプレイ材料分析
液晶ディスプレイ材料分析 製品画像
【その他の化学分析例(一部)】
<液晶>
■GCMS:液晶成分分析
■ICP-AES:液晶中の金属元素分析
■結果
・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された
・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある
<偏光板>
■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)
■結果
・恒温恒湿試験を行ったサンプルでは偏光板の劣化による酢酸セルロースの加水分解が確認された
・偏光板の加水分解はパネル表示不良の原因の一つとなる

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液晶パネルに実装されたICチップ表面観察
液晶パネルに実装されたICチップ表面観察 製品画像
【その他概要】
<液晶パネルのICチップ>
■観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ
■ICチップとガラス基板はACFで接着されており、ICチップは取り外せない構造
■ガラス基板越しにICチップ回路面の観察を試みたが、ガラス基板配線や導電粒子に阻まれ、
 ICチップ回路面を確認することができなかった

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海外製ディスプレイの不良解析
海外製ディスプレイの不良解析 製品画像
【このようなパネルの不良発生に】
■セグメントパネル
 ・SEGの表示欠け
 ・SEGの部分表示欠け
 ・全体が薄表示
■TFT液晶パネル
 ・輝線/滅線
 ・輝点/滅点
 ・ムラの発生
 ・異常加熱
 ・外観破損

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海外製 液晶ディスプレイの良品解析
海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像
【セル解体観察の観察内容】
■シール材とPI膜の状態確認
■画素部のTFTに形状異常や腐食、異物はないか

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