※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
関連情報
【装置仕様】
■日本電子(株)製 Jeol-8200
■分析方式:波長分散型X線分析(WDX)
■分析可能元素:B~U
■エネルギー分解能:20eV(EDXは約130eV)
■検出限界:0.01%~
■最大試料寸法:100×100mm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■日本電子(株)製 Jeol-8200
■分析方式:波長分散型X線分析(WDX)
■分析可能元素:B~U
■エネルギー分解能:20eV(EDXは約130eV)
■検出限界:0.01%~
■最大試料寸法:100×100mm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【その他事例概要】
<EBSDによる2つの黄銅材の比較>
■分析方法:EBSD分析
■結果
・相マップを確認したところ、試料1の⼀部に結晶構造の異なるβ相が見られた
・試料1にはβ相が含まれることから、両試料に材料物性の差があることが予想される
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
<EBSDによる2つの黄銅材の比較>
■分析方法:EBSD分析
■結果
・相マップを確認したところ、試料1の⼀部に結晶構造の異なるβ相が見られた
・試料1にはβ相が含まれることから、両試料に材料物性の差があることが予想される
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アイテス