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関連情報
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
■高度加速寿命試験
内寸(最大) Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸(最大) W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃
■恒温恒湿試験
内寸(最大) W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm
耐荷重(最大) 10kg
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~150℃
内寸(最大) Φ545×L550mm
温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH
■冷熱衝撃試験
内寸(最大) W970×H460×D670mm
温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃
■恒温恒湿試験
内寸(最大) W1000×H1000×D720mm
温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH
■液槽冷熱衝撃試験
試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm
耐荷重(最大) 10kg
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【関連サービス】
■熱、湿度負荷の信頼性試験
■試験前後の表面観察、表面粗度分析
■試験前後の表面/定性化学分析
■試験前後の分子量分析 など
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■試験前後の表面観察、表面粗度分析
■試験前後の表面/定性化学分析
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【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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<観察装置例>
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■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
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【透明樹脂の測定例】
■測定サンプル
・PMMA:アクリル
・PC:ポリカーボネート
・PET:ポリエチレンテレフタレート
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当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
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【EDX(EDS)の特長】
■微小領域の元素分析
■バルク試料の分析
■SEMとの併用が可能
■元素マッピング
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【測定例】
■Ga2O3のバンドギャップ:O1sを測定
■SiCのバンドギャップ:Si2pを測定
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【掲載分析サンプル】
■ポリエチレン
■ポリプロピレン
■ポリスチレン
■塩化ビニル(塩ビ)
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株式会社アイテス