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関連情報
電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
■特徴
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
3.空間分解能(ピクセルサイズ)
透過法/反射法 5.5um、ATR法 1.1um
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
3.空間分解能(ピクセルサイズ)
透過法/反射法 5.5um、ATR法 1.1um
・TOF-SIMSはパルス状の一次イオンを照射し
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
質量の分離が出来ます。
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
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【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
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■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
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■液晶
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【測定モードと試料サイズ】
■引張り
・長さ:25~55mm
・厚さ:0.001~3mm
・幅:~10mm
・適した材料:フィルム等、単一材料
■両持ち曲げ
・長さ:50mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
・適した材料:板、複合材
■3点曲げ
・長さ:55, 50, 45mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
■ずり(せん断)
・長さ:最大断面形状10x10mm
・厚さ:~6mm
■圧縮
・長さ:最大断面Φ15mm
・厚さ:最大高さ~15mm
・適した材料:ゴム・スポンジなど
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・厚さ:0.001~3mm
・幅:~10mm
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・長さ:50mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
・適した材料:板、複合材
■3点曲げ
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・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
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・長さ:最大断面形状10x10mm
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【分析事例】
■熱硬化性樹脂のガラス転移温度測定による硬化度相対的評価
■熱可塑性樹脂の結晶化度測定
■比熱容量測定
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■熱硬化性樹脂のガラス転移温度測定による硬化度相対的評価
■熱可塑性樹脂の結晶化度測定
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【分析事例】
■熱硬化性樹脂中の残留溶媒の揮発挙動と硬化反応の確認
■絶縁材料の耐熱性評価
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【分析可能なサンプル形態】
■ブロック状(自立する)上下が平行である事
■フィルムまたは繊維状
■ブロック状(自立する)
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【分析事例】
■液晶パネルに使用されている偏光板は、トリアセチルセルロース層で
ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
■顕微ラマン分光光度計にて偏光板を深さ方向に連続して測定したところ、
表面から深さ方向に向かってTAC→PVA+I2→TAC→粘着層と変化する様子が観察できた
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ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
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【解析内容(抜粋)】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
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・セルシール
・表示部
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【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
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【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
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【透明樹脂の測定例】
■測定サンプル
・PMMA:アクリル
・PC:ポリカーボネート
・PET:ポリエチレンテレフタレート
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当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
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【装置仕様】
■温度範囲:100-350℃(精度±0.2℃)
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【その他の測定法の特長】
■ATR法
・試料にクリスタルを通して赤外光を照射し、クリスタル界面にて
試料へわずかに潜り込んで出てきた光を測定する
・赤外光が潜り込んだ試料表層数μm程度の情報が得られる
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
■ATR法
・試料にクリスタルを通して赤外光を照射し、クリスタル界面にて
試料へわずかに潜り込んで出てきた光を測定する
・赤外光が潜り込んだ試料表層数μm程度の情報が得られる
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株式会社アイテス