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関連情報
【分析可能なサンプル形態】
■ブロック状(自立する)上下が平行である事
■フィルムまたは繊維状
■ブロック状(自立する)
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電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。
■LEDの信頼性試験
・光学特性評価 -紫外光域/可視光域 対応-
LED製品の光学特性値は、製品の検査及び品質状態の把握に利用可能
・電気特性評価
LEDの電気的な不良或いは劣化の状態を把握
・高温動作試験・高温高湿動作試験
In-Situ常時測定装置の使用により、試験動作中の電圧モニターを実施可能
・信頼性試験
LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施
・点灯試験
単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能
・非破壊検査
X線によるLED内部構造の透過観察を実施
・ESD試験
HBM(人体モデル)とMM(機械モデル)の2種類
■LEDの分析・解析
・LED不良モードの切り分け
不具合部位を特定、最適な解析手法をご提案
・順方向、逆方向バイアスに対応した発光解析
様々な手法にて、LEDのリーク箇所を検出
・LED素子の裏面研磨と裏面発光解析
リーク箇所の断面観察より、リーク発生原因を解析
・橙色LEDの構造解析例
断面SEM観察より、構造を解析
・光学特性評価 -紫外光域/可視光域 対応-
LED製品の光学特性値は、製品の検査及び品質状態の把握に利用可能
・電気特性評価
LEDの電気的な不良或いは劣化の状態を把握
・高温動作試験・高温高湿動作試験
In-Situ常時測定装置の使用により、試験動作中の電圧モニターを実施可能
・信頼性試験
LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施
・点灯試験
単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能
・非破壊検査
X線によるLED内部構造の透過観察を実施
・ESD試験
HBM(人体モデル)とMM(機械モデル)の2種類
■LEDの分析・解析
・LED不良モードの切り分け
不具合部位を特定、最適な解析手法をご提案
・順方向、逆方向バイアスに対応した発光解析
様々な手法にて、LEDのリーク箇所を検出
・LED素子の裏面研磨と裏面発光解析
リーク箇所の断面観察より、リーク発生原因を解析
・橙色LEDの構造解析例
断面SEM観察より、構造を解析
■特徴
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
3.空間分解能(ピクセルサイズ)
透過法/反射法 5.5um、ATR法 1.1um
1.測定方法
イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
2.測定領域
透過法/反射法 175um、ATR法/35um
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【分析事例】
■熱硬化性樹脂のガラス転移温度測定による硬化度相対的評価
■熱可塑性樹脂の結晶化度測定
■比熱容量測定
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■熱可塑性樹脂の結晶化度測定
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【分析事例】
■熱硬化性樹脂中の残留溶媒の揮発挙動と硬化反応の確認
■絶縁材料の耐熱性評価
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■絶縁材料の耐熱性評価
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【測定モードと試料サイズ】
■引張り
・長さ:25~55mm
・厚さ:0.001~3mm
・幅:~10mm
・適した材料:フィルム等、単一材料
■両持ち曲げ
・長さ:50mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
・適した材料:板、複合材
■3点曲げ
・長さ:55, 50, 45mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
■ずり(せん断)
・長さ:最大断面形状10x10mm
・厚さ:~6mm
■圧縮
・長さ:最大断面Φ15mm
・厚さ:最大高さ~15mm
・適した材料:ゴム・スポンジなど
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・厚さ:0.001~3mm
・幅:~10mm
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■両持ち曲げ
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・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
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■3点曲げ
・長さ:55, 50, 45mm
・厚さ:~5mm
・幅:~16mm
■ずり(せん断)
・長さ:最大断面形状10x10mm
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【その他の掲載内容】
■LCP分子構造解説(一例)
■アイテス保有のGC-MS装置
■低分子液晶
■低分子液晶構造解説(一例)
■GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、および検出物質
■液晶構造機能解説
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■低分子液晶
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■LCD製品の信頼性試験
豊富な試験メニュー
試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
迅速・的確な解析を実現します
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試験前後の目視検査
によりお客様の負担を軽減
■LCD製品の不具合解析
故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け
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・TOF-SIMSはパルス状の一次イオンを照射し
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
質量の分離が出来ます。
励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。
・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり
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【分析対象物の例】
■オイル
・各種成分の定性
■プラスチックやフィルム、ゴム製品、基板等
・添加剤や残存溶剤等の定性分析(ヘッドスペース、又はパイロライザー)
・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
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・各種成分の定性
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・分解温度での発生ガス分析から、ポリマー種を推定(パイロライザー)
■液晶
・サンプル間での比較により、微量不純物を定性
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【液体試料の分析例(⽪脂)】
■液体サンプリングを⾏い、Siウェハ上で分析した皮脂のFT-IRスペクトル
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【対象パネル】
■セグメント液晶
■パッシブ液晶
■アクティブTFT液晶(車載,モバイル,TV,etc)
【ご用意いただくもの】
■不良パネル
■点灯冶具(パネル表示不良写真でもOK)
■Refパネル(ご提供可能であれば)
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■パッシブ液晶
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【銅の酸化メカニズム】
■2Cu + 1/2O2 → Cu2O
■Cu2O + 1/2O2 → 2CuO
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【解析内容(抜粋)】
<光学観察>
■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
・SEG-LCD_PIN接合
・引き出し配線/周辺回路
・セルシール
・表示部
・TFT/CF構造
■分析手法
・OM観察
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■分類
・パネルLCM/Cell
・Cell解体後の光学観察
■評価項目
・COG接合/FOG接合
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・表示部
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■分析手法
・OM観察
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【分析事例】
■液晶パネルに使用されている偏光板は、トリアセチルセルロース層で
ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
■顕微ラマン分光光度計にて偏光板を深さ方向に連続して測定したところ、
表面から深さ方向に向かってTAC→PVA+I2→TAC→粘着層と変化する様子が観察できた
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ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造
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表面から深さ方向に向かってTAC→PVA+I2→TAC→粘着層と変化する様子が観察できた
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【装置仕様】
■温度範囲:100-350℃(精度±0.2℃)
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当社は半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える
様々なサービスを提供しております。
製品開発、不良・故障解析、信頼性評価などでお悩みの方はぜひご相談ください。
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【その他の特長】
<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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<観察装置例>
■レーザーマイクロスコープ
■X線CT
■特殊SEM(ULTRA55)
■FIB-SEM
<信頼性試験装置例>
■液槽冷熱試験装置
■気槽冷熱試験装置
■恒温恒湿試験装置
■プレッシャークッカー
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株式会社アイテス